樣品容量：全200mm晶片、150mm晶片、晶片碎片和短柱安裝樣品

CS4800提供高質量的SEM成像、改進的測量精度以及快速、自動化的操作，旨在提高現有生產線的生產力和運營效率，并提高客戶的過程控制能力

SEMVisionG2的檢測組裝和處理使微小和淺缺陷的高質量地形圖像成為可能

Surfscan®SP2和SP2XP系統是KLA革命性的SurfscanSP1平臺的第二代產品，用于無圖案晶圓檢測

200kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現0.078nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX

專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOSGmbH公司(總經理MaxHaider先生)共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適...

"RuliTEM"120kV透射電子顯微鏡系列

現有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regu...

一、設備用途：用于半導體樣品的形貌、結構研究及樣品的元素分析

特征尺寸測量用掃描電子顯微鏡CD-SEMS-8840，適用于6英寸和8英寸晶圓的線寬測試

日立CD-SEM二手現貨掃描電鏡S-9220適用于8英寸晶圓的監測，CD檢測范圍0.1~2.0μm，吞吐量45wph，放大倍數1000~300,000